Forschungsbericht 1999-2000   
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Fachbereich 14 - Geowissenschaften
Institut für Planetologie
Analytische Planetologie (Prof. Dr. Elmar K. Jessberger)
 


Die Isotopenzusammensetzung präsolarer SiC-Körner gemessen mit TOF-SIMS

In primitiven Meteoriten finden sich präsolare Körner, die sich durch ihre Isotopenanomalien von solarem Material unterscheiden. Aufgrund dieser Isotopenanomalien kann man sie bestimmten Sternentypen als Entstehungsort zuordnen. Zur Extraktion diese Körner aus den Meteoriten werden verschiedene Säuren sowie physikalische Methoden eingesetzt. Man findet hauptsächlich Diamant, Graphit und SiC, sowie selten auch Korund und weitere Minerale.

Mittels TOF-SIMS wurde nun ein Subtyp der SiC-Körner, sog. X-Körner, untersucht. Diese zeichnen sich durch hohe 28Si-Anreicherungen (bis zum dreifachen des solaren Wertes) und hohe, initiale 26Al/27Al-Werte (bis zu 0.6; dieses Verhältnis betrug bei der Bildung des Sonnensystems 5×10-5) aus. Es zeigte sich, dass diese Körner, obwohl sie kleiner als 2 mm sind, nicht nur heterogen bezüglich der Elementverteilung sind, sondern auch in ihrer Isotopenverteilung Inhomogenitäten zeigen. Dieser Befund ist außerordentlich erstaunlich. Falls er nicht auf die Säurebehandlung bei der Extraktion der Teilchen zurückzuführen ist,wofür es jedoch gegenwärtig keinen schlüssigen Beweis gibt, lässt er u.U. auf Ungleichgewichtsbedingungen bei der Kondensation in einer Supernova-Hülle schließen. Zur definitiven Klärung der Ursache dieser Heterogenitäten versuchen wir, in Zusammenarbeit mit dem Physikalischen Institut, die Si-Isotopenverteilung durch SNMS-Messungen zu bestätigen.

Drittmittelgeber:

Max-Planck-Institut für extraterrestriche Physik

Beteiligte Wissenschaftler:

Dipl. Phys. Torsten Henkel, HDoz. Dr. Thomas Stephan, Prof. Dr. Elmar K. Jessberger

Veröffentlichungen:

Henkel, T., Stephan, T., Jessberger, E.K., Hoppe, P., Strebel, R.: Structured Presolar Silicon Carbide X Grains? Met. & Planet. Sc., Vol. 35, Suppl., A69, 2000

Henkel, T., Stephan, T., Jessberger, E.K., Hoppe, P., Strebel, R.: TOF-SIMS Analysis of Presolar SiC X-grains, J. of Conf. Abstracts, Goldschmidt 2000, S. 509, 2000

 
 
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Hans-Joachim Peter
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Datum: 2001-06-20